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美國(guó)磁通MAGNAFLUX干粉顯像劑
更新時(shí)間：2024-10-22
訪問(wèn)量：2253
廠商性質(zhì)：代理商
生產(chǎn)地址：美國(guó)
ZP-4D干粉顯像劑適用于經(jīng)過(guò)滲透并烘箱干燥后的零部件。其優(yōu)勢(shì)在于能夠形成一層非常薄的膜附著在零件表面從而提高對(duì)其細(xì)小缺陷的檢測(cè)。
ZP-4D作為ZP-4B的換代產(chǎn)品能夠勝任ZP-4B所適用的所有方案，具有同樣優(yōu)秀的功能性和技術(shù)性能，同時(shí)作為新干粉顯像劑解決了其他干粉顯像劑固有的粉塵燃爆風(fēng)險(xiǎn)，為客戶提供更加安全可靠的使用環(huán)境。
ZP-4D已被列入AM
美國(guó)磁通MAGNAFLUX干粉顯像劑ZP-4D
ZP-4D干粉顯像劑適用于經(jīng)過(guò)滲透并烘箱干燥后的零部件。其優(yōu)勢(shì)在于能夠形成一層非常薄的膜附著在零件表面從而提高對(duì)其細(xì)小缺陷的檢測(cè)。
ZP-4D作為ZP-4B的換代產(chǎn)品能夠勝任ZP-4B所適用的所有方案，具有同樣優(yōu)秀的功能性和技術(shù)性能，同時(shí)作為新干粉顯像劑解決了其他干粉顯像劑固有的粉塵燃爆風(fēng)險(xiǎn)，為客戶提供更加安全可靠的使用環(huán)境。
ZP-4D已被列入AMS 2644合格產(chǎn)品目錄，并被普惠公司認(rèn)證和使用，能夠滿足所有航天航空客戶及其他各行業(yè)客戶的需要。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
均勻且薄的顯像劑膜層
對(duì)細(xì)小缺陷出色的檢測(cè)能力
列入SAE AMS 2644合格產(chǎn)品目錄
普惠準(zhǔn)入資格
符合規(guī)范
AECL
AMS 2644
AMS 2647
ASME
ASTM E1417
ASTM E165
Boeing BAC 5423 PSD 6-46 or 8-4
Boeing PS-21202
GE P3TF2
Honeywell EMS 52309
ISO 3452-2
MIL-STD-2132
MIL-STD-271
Pratt & Whitney PMC 4356
QPL SAE AMS 2644
包裝形式 & 件號(hào)
5公斤桶 —— 01-3330-20C
美國(guó)磁通MAGNAFLUX干粉顯像劑ZP-4D 的應(yīng)用范圍
缺陷位置： 表面開口缺陷
適用于：
鑄件
渦輪組件
關(guān)鍵部件
缺陷類型：
裂紋
裂縫
氣孔
使用建議
NDT 方法： 滲透檢測(cè)
類型： 類型1
顯像方式： 方式a 干粉
